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A lo largo de los años, la microscopía electrónica de barrido se ha convertido en una herramienta poderosa en muchos campos de investigación diferentes. La razón principal de este crecimiento en popularidad es el encogimiento continuo de la dimensión de los materiales utilizados en varias aplicaciones. Los microscopios electrónicos de exploración de escritorio (Scanning Electron Microscopes -SEM-, por sus siglas en inglés) de Phenom se han creado para que las capacidades de imágenes detalladas de la microscopía electrónica estén disponibles para todos. Los instrumentos SEM de escritorio cuentan con una mayor facilidad de uso, democratización de la tecnología SEM. ¿Quiere desbloquear todo el potencial de la microscopía electrónica de escaneo sin tener que comprometerse con la facilidad de uso? Mejore su conocimiento sobre la microscopía electrónica de escaneo y descubra cómo el microscopío electrónico de exploración de escritorio (SEM) puede respaldar de manera óptima su investigación en nuestros blogs de Phenom Desktop SEM.
En este blog describimos brevemente las similitudes y diferencias entre los dos tipos principales de microscopios electrónicos: microscopio electrónico de transmisión (TEM) y el microscopio electrónico de barrido (SEM).
En este blog describiremos los diferentes tipos de electrones que se producen en un SEM, cómo se detectan y el tipo de información que pueden proporcionar.
En este blog, describimos y analizamos cómo las herramientas automatizadas combinadas con SEMS pueden ser útiles en la calidad de la calidad de los recubrimientos de fosfato.
El objetivo de este blog es aclarar la ampliación en los microscopios electrónicos de barrido (SEM) y se centran en otros parámetros que pueden describir mejor qué tan grande se representa un objeto.
En este blog, responderemos las preguntas "¿Cómo funcionan una lente electrónica? ¿Y qué tipo de lentes existen? ¿Cómo se combinan las lentes para formar una columna de electrones?" y dar una visión general sobre el principio de funcionamiento de una columna de electrones.
El objetivo de este blog es aclarar lo que puede causar la degradación de la muestra y cómo puede ralentizar el proceso.
Este blog se centrará en los efectos del voltaje en los resultados del análisis de microscopía electrónica.
El objetivo de este blog es aclarar el uso del monitoreo preciso y la caracterización de las partículas, y cómo la microscopía electrónica de barrido puede resultar un método de caracterización valioso.
El objetivo de este blog es aclarar cómo mejorar fácilmente los resultados siguiendo las técnicas simples pero poderosas de la preparación de la muestra para SEM.
El objetivo de este blog es ofrecer información sobre los proyectos recientes que involucran microscopios electrones de exploración en aplicaciones biológicas celulares.
Demostramos las mejores prácticas para el análisis de fallas usando microscopia electrónica de barrido (SEM), que son poderosas herramientas para incontables aplicaciones de análisis de fallas dado que revelan detalles estructurales a micro y nano escala.
Respondemos a la pregunta: "¿Por qué el microanálisis fue tan lento?" Y discutimos las mejoras en la velocidad del microscopio electrónico de barrido que permiten un análisis SEM EDS rápido y automatizado.
Examinamos aplicaciones SEM de análisis de fallas clave para dispositivos y materiales, y explicamos cómo un SEM puede aumentar el rendimiento y las capacidades de análisis.
Revelamos los beneficios del control de calidad automatizado, examinando las ventajas tanto desde un sistema de control de calidad automatizado como desde una perspectiva de inspección de control de calidad automatizado.
Examinamos dos métodos clave, la microscopía óptica y la microscopía electrónica de barrido, revelando los beneficios que aporta cada técnica y explicando su funcionamiento y las diferentes áreas de aplicación.
Nos enfocamos en diferentes componentes de hardware que usan los SEM para producir imágenes de una muestra y cómo son capaces de tener una resolución mejor que un nanómetro.
Examinamos cómo los microscopios electrónicos de barrido (SEM) y la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS) pueden determinar la naturaleza de las partículas contaminantes, lo que facilita el cumplimiento de las normas industriales ISO 16232 y VDA 19.
Examinamos una selección de sistemas de análisis de fallas y control de calidad SEM, investigando los mejores SEM para estas aplicaciones. Le explicamos cómo puede satisfacer las demandas actuales de control de calidad rápido y preciso y análisis de fallas SEM sin comprometer la calidad de sus mediciones y la profundidad de la información resultante.
Revelamos cómo puede mejorar su control de calidad interno con SEM. Explicamos cómo un microscopio electrónico de barrido le brinda la capacidad de realizar análisis, verificación y clasificación química de materiales rápidamente, al tiempo que proporciona datos rápidos, precisos y confiables.
Para los gerentes de laboratorio, elegir el SEM adecuado para su instalación puede parecer confuso. Hay muchos factores diferentes a tener en cuenta. Examinamos uno de sus puntos de decisión más fundamentales: ¿Debo optar por un SEM de piso o un SEM de escritorio?
Al comparar fabricantes de microscopios electrónicos de barrido, es importante evaluar la calidad de sus máquinas, las áreas de experiencia y el nivel de soporte que pueden brindar. Examinamos cuál es el mejor para su laboratorio.
Explicamos los principios detrás del estándar internacional ISO 16232 y el estándar alemán VDA 19.
Revelamos cómo puede cumplir con una variedad de especificaciones de microscopios electrónicos de barrido.
Analizamos las aplicaciones de control y garantía de calidad de los microscopios electrónicos de barrido.
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es una herramienta fundamental en una amplia gama de campos de investigación. La resolución SEM puede estar entre menos de un nanómetro y hasta decenas de nanómetros. Entonces, ¿cuál es la mejor opción para su laboratorio de ciencia de materiales?
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.